テスト装置を追加導入するのではなく、ソフトウェアを導入してテスト時間を短くすることによって、コストを抑えて生産性を高めることも可能です。 ティアテックでは、ハードウェアだけでなくソフトウェアによって、歩留り向上、品質向上、テスト時間短縮、コスト削減のソリューションを提供しています。

			ウエハテスト、ファイナルテストの結果を分析して、テストプログラムを最適化するソフトウェアです。 テスト結果を分析して、「無駄なテスト項目」「品質問題を引き起こすテスト項目」「間違って設定されたテスト項目」など、問題を抱えているテスト項目を素早く調べて、テストプログラムの問題に対する改善策をレポートするソフトウェアです。 テストプログラムの改善に着目して、テスト時間短縮、品質向上、歩留向上を行うための画期的なツールです。		- テスト時間の短縮 - テストプログラム立上時間の短縮 - テストリミットの最適化　 ⇒　歩留・品質向上 - テスト環境の不具合を発見 - テストプログラムの不具合を発見 - 統計結果の各種グラフ表示 - レポート作成機能

			ATEテストの結果を統計的に解析し、初期不良を起こす危険性のあるデバイス（アウトライア）をウエハテストの段階で発見するためのデータ解析ソフトウェアです。アウトライアをウエハテストの段階で発見、除去することで、デバイスの信頼性向上はもちろん、高額なテスト装置の削減、バーンインや信頼性試験の削減を行うことも可能です。全自動で動作し、インラインオートメーションに対応しており、高信頼性かつ高歩留りを達成するための解析ソリューションです。		- 初期故障を起こす潜在不良を前工程で除去 - デバイス信頼性の向上 = 初期故障の削減 - バーンインテスト削減 - 潜在不良デバイスの品質グレード分け - 生産ラインに対応、フルオートメーション - PAT (Parts Average Testing)を凌駕 - 2007年にはトヨタ自動車で採用

			「どんな製造工程で作られたのか？」 「製造装置は？」 「ロットは？」 「ウエハは？」 「ウエハ上の位置は？」 「どの基板に積載された？その位置は？」 「どんな特性をもったデバイス？」 といったデバイス情報をストックして、チップ単位でのトレーサビリティを可能にするシングルデバイストラッキングシステムです。		- シングルデバイストラッキング - 総合的なデータ分析 - 素早い故障解析 - プロセスを通したデータの分析・検証 - 製造装置・テスト装置の効率改善 - 不良検証にかかる人件費の大幅削減 - アウトソーシング先の管理 - アダプティブテスト - インテリジェントリコール

			お客様のご要望にあわせて多様なソフトウェアを開発しています。例えば、テスト結果をマージして（10テスト以上可能）自動でインキングを実施するソフトを開発しました。このソフトは遊休設備であったプローバーを有効活用するためのソフトです。インキング専用プローバーを導入することにより、高価なテスターに接続されたプローバーがインキングを実施しているような場合、テスター稼働率をＵＰできます。		- お客様のご要望に合わせたソフトウェアを開発 - アプリケーションを理解した設計 - 使い勝手にこだわった設計 - 半導体測定システムの豊富な経験と実績 - 各種コンバーター - データマイニングソフト

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