ATE関連受託評価



1. 概要

CMOS Image Sensor(CIS)の試作過程で必要となる
様々な評価及びテスト開発サービスを、
自社の自動検査装置(ATE)を使用してご提供することが可能です。

評価結果から得られる電気情報を物理情報に換言し、製造・設計に対する問題点をお客様ご自身で解決出来るようにサポート致します。ご要望に応じて弊社エキスパートによるコンサルタントもご提供可能です。

すべての結果は、統合的に量産テストへ集約され、製品の出荷品質をお客様とご一緒に創造致します。






2. サービスの内容

お客様のご要求に応じて量産化までのデバイス評価及びテスト開発を
一貫してコーディネイト致します。

典型的な量産までの開発フローは以下の通りです。
当社では、開発フローの一部もしくは全ての工程における業務サービスをご提供することで、お客様に効率的な製品開発をご提案出来ればと考えています。

1. 評価仕様の作成
2. 評価治工具設計開発
3. 評価テストプログラム開発
4. 製品機能評価/特性評価
5. 画素評価/IP単体評価
6. 評価報告書作成
7. 量産テスト仕様作成
8. 量産治工具設計開発
9. 量産テスト立上げ
10.立上げ報告書作成






3. 当社所有の評価装置

装置 用途 メーカー名 型番
テスター CIS機能評価
CIS特性評価
テスト、解析
Teradyne IP750EX IP750EX
CIS機能評価
テスト、解析
Advantest CX1000D CX1000D
ハロゲン光源 CIS機能評価
テスト、解析
応用電機 AITOSシリーズ AITOSシリーズ
プローバー ウェハー評価
パッケージ評価
テスト、解析
東京精密 UF3000EX UF3000EX
分光光源 分光感度特性の評価 朝日分光 PVL-3310 PVL-3310
オシロスコープ MIPI評価
コンフォーマンス試験
Keysight Infiniium90000シリーズ Infiniium90000シリーズ
CIS機能評価
(~100MHz)
解析
Tektronix TBS2000シリーズ TBS2000シリーズ
CIS機能評価
(~350MHz)
解析(電流プローブ付)
Tektronix MDO3000シリーズ





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これまでの豊富な実績から、お客様のニーズに最適なご提案をいたします。

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