半導体電気測定委託・受託サービス｜株式会社ティアテック

「自社テスタでは特殊デバイスの対応が難しくなった」「他のテストハウスでは、対応不可能といわれてしまった」…。そんな時には、ティアテックにお任せください。
ティアテックでは、例えば、お客様の持つプローブカードの隙間から、ポジショナでウェハーに針を当て、電源を取るなどの特殊な対応も可能です。さらに、ソフトウェア開発も得意とする当社では、新たなデバイスの測定データも、お客様の社内独自のフォーマットデータにして出力することも可能です。また、スパイスモデリング用ソフトに対応したデータ出力、ウェハー面内すべての測定をし、その測定結果から、初期不良になりやすいデバイスの特定などのレポート作成や歩留解析、測定結果解析まで対応しています。
製造品質向上に、ティアテックの応用力をご活用ください。

少数精鋭のテスト技術専門集団であるティアテックでは、特殊なウェハーの特殊な測定を得意としています。だからこそ「新しく製造し始めたウェハーの測定データがうまくとれない、その理由を解析してほしい」といったデバックモードも受託可能。「ディレイに問題があるのか」「プローブカードに不具合があるのか」など、半導体テストを熟知した技術者が、多面的に、そして的確に原因を解析します。
さらに、必要があれば故障解析も可能です。不良箇所に対して、カットしてSEMやTEM、エミッションで観察する、OBIRCHを使用するなど、多面的な故障解析に対応しています。
また、ソフト改善、ケーブル改造、テスタの構成変更、テスタの組み合わせによる測定システムの再構築などの改善提案までにも対応しています。
テストだけではなく、テスト場面におけるあらゆる問題解決に、ワンストップソリューションを可能にしたティアテックの総合力・提案力をご活用ください。